探测器

Si-Pin 半导体探测器

X 射线发生装置

新型 X 射线管

算法

FP 算法

分析软件

可同时分析 5 层镀层，24 种元素

信号处理器

数字多道技术

高压

0-50KV 智能程控高压系统

准直器

标配Φ0.5mm

样品观察

工业 CCD 高清摄像头

放大倍数

光学放大 30 倍

安全系统

多维散热系统、多重辐射安全系统

软件操作

智能分析、一键操作

外观尺寸

414*416*362mm

腔体尺寸

268*307*97mm

一键操作、自动匹配

一键无标样测试，自动识别物料，几秒快速出结果却精确稳定，减少误选带来的测试误差

高分辨率探测器

分辨率最低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，具有更高的稳定性和精度

智能化软件

人性化的软件界面，灵活的数据显示与编辑、导出，操作智能、便捷

多重保护系统

仪器硬件功能实时监控，多重安全保护装置，让您的使用更加放心

确保镀层产品一致性

在合理价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制，精度与稳定性领先行业水平