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T-650高阶全自动性能膜厚仪

T650 是一款匠心打造的细腻品质、高性能膜厚仪，采用微聚焦增强型射线管和数字多道脉冲信号处理技术，同时搭载全自动移动平台与变焦装置，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试的小部件。

全国服务热线：400-658-1808 / 13812610266

高阶全自动性能膜厚仪

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1）微聚焦高集成垂直光路交换装置：前沿的光路聚焦系统设计，实现对微小测量点高效、精准、稳定检测

2）搭载变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-85mm

3）搭载Si-pin探测器，分辨率最低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，具有更高的稳定性和精度

4）镀层检测精度及稳定性可控制5%内

5）配备全自动移动平台：高精密移动平台，对多点检测时自动、快速精准定位

6）使用成本低：运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低

7）可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析

仪器参数

项目	T-650
涂镀层分析范围	Li（3）- U（92）
分析软件	自主研发的增强型FP算法，可实现多层多元素的快、准、稳测试
软件操作	智能分析软件，一键操作自动出结果，并可自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作
分析时间	20-300秒
探测器	Si-Pin半导体探测器
X射线装置	高稳定性微聚焦增强型射线管
准直器	标配Φ0.3mm （Φ0.3mm/Φ0.2mm/Φ0.5mm三选一）
信号处理器	采用自主研发的数字多道技术，达到最佳峰背比
高压系统	0-50KV智能程控高压系统最
变焦装置	可测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-85mm
样品观测	采用工业 CCD 高清摄像头实时观察
对焦方式	高精度手动对焦
放大倍数	光学放大30倍
Z轴移动范围	170mm
样品台尺寸	230*230mmm
样品台移动	高精密全自动移动平台
安全系统	多维散热系统、多重辐射安全系统
其他附件	电脑一套、打印机、电镀液测量杯（选配）
资质	辐射安全生产许可证；ISO9001：2015质量管理体系认证

应用领域

l无损检测

在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织，整个测试过程无任何损伤。

l镀层分析

可分析单层、多层复合层、合金层、重复镀层厚度，满足Au/Ni/CuZn、NiP/Al、ZnNi/Fe、Cr/Ni/Cu/CuZn等镀层的检测要求

l应用行业

广泛应用于汽车零部件、线路板、军工、卫浴、电子元器件、线材、接插件、航空等行业

工作环境要求