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应用领域
矿石分析、合金检测、有害元素检测（RoHS、卤素）、全元素分析、镀层测厚分析等。X 射线荧光光谱仪分析具有制样简单、分析速度快、分析含量范围宽、重现性好、准确度高等优点，随着 X 射线荧光光谱分析技术的不断推广，利用 X 射线荧光光谱仪分析仪检测已成为很多行业质量控制的主要手段。
性能介绍
01
技术参数
元素分析范围 : 钠（Na）~ 铀（U）
分析元素含量范围 :PPM~99.99%（不同材质，分析范围不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度 :15-30℃
同时分析元素 : 一次可同时分析几十种元素
测试时间 :50-200s
电源 : 交流 220V±5v，建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率 :129±5eV
样品腔尺寸 :400*340*80mm
仪器尺寸：700*510*336mm
仪器重量：56kg
分析精度：0.05%（含量高于 96% 以上的精品，21 次测试稳定性）
高真空系统、高分辨率SDD硅漂移数字多道型电制冷探测器
02
性能优势
◆ 下照式：可满足各种形状和状态的样品测试需求，固体、液体、粉末都可进行快速无损检测
◆ 高分辨率电子制冷探测器：良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，最新数字多道技术，测试速度更快，测试精度更高
◆ 新一代高压电源和 X 光管：高效超薄窗 X 光管，指标达到国际先进水平，低能 X 射线激发待测样品，对铝硅、磷等轻元素激发效果更好
◆智能抽真空系统：屏蔽空气的影响，大幅扩展仪器测试范围
分析方法
01
有损分析光谱法
AAS、ICP、AFS 在前处理方面跟化学滴定法相差不多，都必须把样品制成溶液，其对微量元素分析精度高，要求分析测试人员素质高专业性强、测试时间短、人为误差少等特点。用于实验室环境条件下。
02
无损分析光谱法
X 荧光法应用于材料分析的特点也很明显，分析速度快、前处理简单，样品无损、人为误差小、分析范围广、最低检出限达到ppm 级等的特点，可以测液体、固体和粉末样品。
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