准确获得纸张、薄膜和离型膜上有机硅涂层的厚度和质量至关重要。我司自主研发的A550硅油涂布检测仪既可以分析PET薄膜，还可以分析格拉辛、淋膜纸及牛皮纸等多种硅油涂布量。

• 测试采用X射线荧光光谱原理,测试过程无需耗材

• 配置高清液晶显示器,测试过程和测试结果一目了然

• 光管垂直照射,硅元素性能得到更强激发

• 设备集成多个 usb 接口，数据和通讯传输满足多种要求

• 测试下限好,可准确测量0.01g/m的涂硅量

• 空气光路内部环境得到显著优化,大气环境一样可以直接测试

• 采用大面积硅漂移探测器,测试结果极其准确

• 一键测试/操作简单智能,测试过程使用时间更短,结果更准确

• 快速采用新的模型算法,大大提高了轻元素的测量稳定性

• 各种薄膜、淋膜、离型膜等

• 硅油涂布量的测定

• 各种薄膜生产过程中

• Si/Al元素等比量的测定

• 电子产品保护膜

• 硅油残余量的测定

• 电子产品硫化物的残留量的测定